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  • ts-80熒光膜厚計

    熒光膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

    更新時間

    2025-10-25

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  • ts-80鍍膜測試儀

    熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

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  • t-80電鍍膜厚儀

    電鍍膜厚儀采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

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    2025-10-25

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  • ts-80鍍層測試儀

    熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

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    2025-10-25

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  • 熒光X線膜厚計

    熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量系統解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

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    2025-10-25

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