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熒光膜厚計

更新時間：2025-10-25

熒光膜厚計采用中文視窗操作測量系統(tǒng)解析度0.001µm小測量面積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

熒光膜厚計特點：


中文視窗操作測量系統(tǒng)
解析度0．001um， 小測量面積0．1mmΦ
可測量合金層之厚度和組成比例
可測量兩層以上鍍層之個別厚度
藉由光譜分析可判定被測物之元素
適用對象：1C導(dǎo)線架，封裝業(yè)、PCB業(yè)、精密零
件業(yè)、電鍍業(yè)、電子業(yè)。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 
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